Colloque / Séminaire

La spectrométrie de masse par temps de vol à ions secondaires (TOF-SIMS) est une technique d’analyse très utilisée pour l’étude des surfaces en science des matériaux. Le développement de sources d’ions polyatomiques a permis d’augmenter sa sensibilité et d’analyser des composés organiques à une échelle inférieure au micron. L’avènement récent de sources d’agrégats massifs d’argon permet une analyse en volume pour des échantillons organiques. Le TOF-SIMS est donc devenu une méthode de choix pour l’imagerie chimique par spectrométrie de masse à l’échelle micrométrique ou sub-micrométrique, complémentaire de la désorption-ionisation laser assistée par matrice (MALDI), plus répandue mais limitée à plusieurs microns. Le TOF-SIMS est également particulièrement utile pour l’analyse in situ de métabolites dans des échantillons de plantes, ou pour la détermination précise des compositions organique et minérale d’échantillons du patrimoine culturel, tels que des peintures anciennes.